M4應用于多基體的、高性能的全譜直讀光譜儀
01 優(yōu)異的分析性能、非常緊湊的儀器結構
02 用于多種基體、多種材料的分析,分析范圍覆蓋了幾乎所有的重要元素,可以滿(mǎn)足絕大多數現代鑄造業(yè)的應用需求。
03 高亮度全息光柵具備3600條/mm刻線(xiàn),使得分光系統具有高的分辨率。
04 氬氣吹掃光室配置了優(yōu)化設計的低流速吹氬系統,既保證低的使用成本又保證紫外區的透過(guò)率。
05 應用高分辯率多CMOS讀出系統,較低的暗電流、較好的檢出限、較高的穩定性、較強的靈敏度。
06 全數字化的智能復合光源DDD技術(shù),充分滿(mǎn)足不同基體、不同樣品以及不同元素的激發(fā)要求。
07 一體式開(kāi)放火花臺,可以滿(mǎn)足各種不同樣品結構的分析。
08 配置多條工廠(chǎng)校正曲線(xiàn)及更多的材料分析方法和先進(jìn)的解決方案。
09 可根據用戶(hù)的材料要求,延長(cháng)標準曲線(xiàn)的測量上、下限。
精密設計的氬氣吹掃系統
光室密封性強,可保持內部氬氣長(cháng)期純凈。
光室空間優(yōu)化設計,降低氬氣消耗,有效節約產(chǎn)生成本。
低氬氣吹掃系統,確保光室UV波段測量環(huán)境。
光室充氬免除復雜的真空系統。
高分辯率CMOS檢測器實(shí)現全譜分析
譜線(xiàn)覆蓋了所有的重要元素,滿(mǎn)足所有基體和材料的分析。
高靈敏的紫外區檢測,對N的分析檢測更準確。
可有效選擇元素靈敏線(xiàn),保證分析的準確度。
多峰擬合技術(shù),有效消除譜線(xiàn)干擾,實(shí)現精準測量。
分析軟件功能強大
1)基于Windows系統的多國語(yǔ)言的CCD全譜圖形化分析軟件,方便實(shí)用;
2)全方位管理的控制整個(gè)測量過(guò)程及為用戶(hù)提供強大的數據處理能力和測試報告輸出能力;
3)儀器可配置多條工廠(chǎng)校正曲線(xiàn)及更多材質(zhì)分析及先進(jìn)解決方案;
4)軟件實(shí)現全譜檢測、智能扣干擾、扣暗電流、背景和噪聲的算法,提高儀器的分析能力;
5)完備的自動(dòng)系統診斷功能;
6)完善的數據庫管理功能,可方便查詢(xún)、匯總數據;
7)智能校正算法,保證儀器穩定可靠;
8)完備的譜線(xiàn)信息和干擾扣除算法,保證儀器分析更為精準;
9)適應Windows操作系統。